Микроскоп N-SIM назван одной из десяти лучших инноваций 2011 года.
Микроскоп сверхвысокого разрешения Nikon N-SIM выбран одной из десяти лучших инноваций в сфере микроскопии по итогам конкурса Microscopy Today Innovation Award 2011.
Результаты конкурса были объявлены на выставке «Микроскопия и микроанализ 2011» Нэшвилл, штат Теннесси, США. Оценивались инновации, способствующие развитию методов микроскопии в световой микроскопии, сканирующей зондовой микроскопии, электронной микроскопии, аналитической микроскопии и подготовке образцов, систем получения и анализа изображений, которые становятся более мощными, гибкими, продуктивными и простыми в использовании.
Конкурс проводится при поддержке издания «Микроскопия Сегодня», принадлежащего Американскому обществу микроскопии.
Смотрите так же:
Вернуться наверх