Компания Nikon Instruments выпустила систему сверхвысокого разрешения N-SIM S со скоростью съемки до 15 кадр/сек

05.04.2018

Микроскоп сверхвысокого разрешения N-SIM S – это новое поколение оптических систем сверхвысокого разрешения, основанных на технологии структурированного освещения образца (SIM). Предел разрешения микроскопа N-SIM S достигает 115 нм, как и в системах предыдущего поколения, однако скорость получения изображения улучшена более чем на порядок и может составлять до 15 кадр/сек.

Микроскоп N-SIM S можно совместить с конфокальной приставкой Nikon A1R HD. При этом область интереса в образце может быть визуализирована в конфокальном режиме с низким увеличением/большим полем зрения и затем получена в режиме сверхвысокого разрешения простым переключением режимов в программном обеспечении NIS-Elements.

Ключевые характеристики системы:

Режимы работы	TIRF-SIM, 2D-SIM, 3D-SIM (метод реконструкции: slice, stack)
Латеральное разрешение (XY)	115 нм в режиме 3D-SIM, 86 нм в режиме TIRF-SIM
Аксиальное разрешение (Z)	269 нм в режиме 3D-SIM
Скорость съемки	До 15 кадр/сек (TIRF-SIM/2D-SIM, время экспозиции: 2 мсек)
Многоцветные изображения	До 5 цветов (последовательно) 2 цвета (одновременно)
Совместимые лазеры	405 нм/488 нм/561 нм/640 нм 445 нм/514 нм
Совместимые объективы	CFI SR HP Plan Apochromat Lambda S 100XC Sil (NA 1.35) CFI SR HP Apochromat TIRF 100XC Oil (NA 1.49) CFI SR HP Apochromat TIRF 100XAC Oil (NA 1.49) CFI SR Plan Apochromat IR 60XC WI (NA 1.27) CFI SR Plan Apochromat IR 60XAC WI (NA 1.27) CFI Plan Apochromat Lambda 60XC (NA 0.95) CFI Plan Apochromat Lambda 40XC (NA 0.95)
Детектор	Камера sCMOS ORCA-Flash 4.0 (Hamamatsu Photonics K.K.)
Программное обеспечение	NIS-Elements Ar NIS-Elements C (для конфокальных микроскопов Nikon A1 HD/A1R HD)
Условия эксплуатации	От 20℃ до 28 ℃ (± 1.5℃)